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Aktiv Normen | Herausgegeben: 07.09.2022
BS IEC 63068-4:2022
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 269.50 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS IEC 63068-4:2022
Ausgabedatum: 07.09.2022
Seiten: 28
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 539 18417 4 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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