Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.12.2003

ČSN EN 60749-8

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

ab 17.90 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ČSN EN 60749-8

Ausgabedatum: 01.12.2003

Seiten: 44

Land: Tschechische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky.
Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog