Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/12/2003
ČSN EN 60749-8
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
from 17.90 EUR
show on eshop
Detail information
Designation: ČSN EN 60749-8
Publication date: 01/12/2003
Pages: 44
Country: Czech technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky.Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.
Popular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
