Aktívna norma | Vydaná: 01.12.2003

ČSN EN 60749-8

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

od 17.90 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ČSN EN 60749-8

Dátum vydania: 01.12.2003

Stránok: 44

Krajina: Česká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky.
Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.

Populárna vydavatelia

celý katalóg