Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.10.2012
ČSN EN 62047-14
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials
Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
ab 14.00 EUR
im E-Shop anzeigen
Detailinformationen
Bezeichnung: ČSN EN 62047-14
Ausgabedatum: 01.10.2012
Seiten: 28
Land: Tschechische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Tato norma popisuje definice a postupy pro měření mezní tvářitelnosti kovových materiálů tvořících vrstvu pro tloušťky v rozmezí od 0,5 _m do 300 _m. Kovové vrstvy, které jsou v normě zmiňovány se používají v elektrických částech, MEMS a mikrosoučástkách. Norma uvádí metody předpovídání vad v materiálu při vtiskávacím procesuPopuläre Herausgeber
DIN Normen
BS Normen
ASTM Normen
ISO Normen
IEC Normen
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
