Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: ČSN EN 62047-14
Dátum vydania: 01.10.2012
Stránok: 28
Krajina: Česká technická norma