Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/10/2012
ČSN EN 62047-14
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
from 16.20 USD
show on eshop
Detail information
Designation: ČSN EN 62047-14
Publication date: 01/10/2012
Pages: 28
Country: Czech technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
Tato norma popisuje definice a postupy pro měření mezní tvářitelnosti kovových materiálů tvořících vrstvu pro tloušťky v rozmezí od 0,5 _m do 300 _m. Kovové vrstvy, které jsou v normě zmiňovány se používají v elektrických částech, MEMS a mikrosoučástkách. Norma uvádí metody předpovídání vad v materiálu při vtiskávacím procesuPopular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
