ČSN EN IEC 60749-30-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

ab 14.00 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ČSN EN IEC 60749-30-ed.2

Ausgabedatum: 01.03.2021

Seiten: 24

Land: Tschechische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Tato norma popisuje normalizované postupy pro stanovení aklimatizace před zkouškou spolehlivosti pro nehermetické povrchově montované součástky (SMD).
Zkušební metoda popisuje postup aklimatizace pro nehermetické součástky v pevné fázi pro SMD, který reprezentuje typické operace vícenásobného pájení přetavením.
Součástky SMD jsou podrobeny přiměřené posloupnosti aklimatizace popsané v této normě, předtím než budou podrobeny specifickému zkoušení spolehlivosti v laboratoři výrobce (monitorování kvalifikační a/nebo spolehlivostní) z důvodu vyhodnocení dlouhodobé spolehlivosti (ovlivněné namáháním při pájení)

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog