ČSN EN IEC 60749-30-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 16.20 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN IEC 60749-30-ed.2

Publication date: 01/03/2021

Pages: 24

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato norma popisuje normalizované postupy pro stanovení aklimatizace před zkouškou spolehlivosti pro nehermetické povrchově montované součástky (SMD).
Zkušební metoda popisuje postup aklimatizace pro nehermetické součástky v pevné fázi pro SMD, který reprezentuje typické operace vícenásobného pájení přetavením.
Součástky SMD jsou podrobeny přiměřené posloupnosti aklimatizace popsané v této normě, předtím než budou podrobeny specifickému zkoušení spolehlivosti v laboratoři výrobce (monitorování kvalifikační a/nebo spolehlivostní) z důvodu vyhodnocení dlouhodobé spolehlivosti (ovlivněné namáháním při pájení)

Popular Publishers

full catalog