ČSN EN IEC 60749-30-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

od 14.00 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ČSN EN IEC 60749-30-ed.2

Dátum vydania: 01.03.2021

Stránok: 24

Krajina: Česká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Tato norma popisuje normalizované postupy pro stanovení aklimatizace před zkouškou spolehlivosti pro nehermetické povrchově montované součástky (SMD).
Zkušební metoda popisuje postup aklimatizace pro nehermetické součástky v pevné fázi pro SMD, který reprezentuje typické operace vícenásobného pájení přetavením.
Součástky SMD jsou podrobeny přiměřené posloupnosti aklimatizace popsané v této normě, předtím než budou podrobeny specifickému zkoušení spolehlivosti v laboratoři výrobce (monitorování kvalifikační a/nebo spolehlivostní) z důvodu vyhodnocení dlouhodobé spolehlivosti (ovlivněné namáháním při pájení)

Populárna vydavatelia

celý katalóg