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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.12.2024
DIN EN IEC 60749-28:2024-12
VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
ab 3 079.30 CZK
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Detailinformationen
Bezeichnung: DIN EN IEC 60749-28:2024-12
Ausgabedatum: 01.12.2024
Seiten: 51
Land: Deutsche technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.Populäre Herausgeber
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