Aktívna norma | Vydaná: 01.12.2024

DIN EN IEC 60749-28:2024-12

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.)

Dostupné jazyky: Nemecky

Dostupné prevedenie: Tlačené

od 126.90 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: DIN EN IEC 60749-28:2024-12

Dátum vydania: 01.12.2024

Stránok: 51

Krajina: Nemecká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.

Populárna vydavatelia

celý katalóg