Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.12.2024
DIN EN IEC 60749-28:2024-12
VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
od 144.00 USD
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: DIN EN IEC 60749-28:2024-12
Datum vydání: 01.12.2024
Stran: 51
Země: Německá technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
