Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.03.2015

DIN SPEC 52407:2015-03

Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM).
(Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM).)

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Detailinformationen

Bezeichnung: DIN SPEC 52407:2015-03

Ausgabedatum: 01.03.2015

Seiten: 23

Land: Deutsche technische Norm

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Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM).

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