Aktívna norma | Vydaná: 01.03.2015

DIN SPEC 52407:2015-03

Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM).
(Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM).)

Dostupné jazyky: Nemecky

Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené

od 67.50 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: DIN SPEC 52407:2015-03

Dátum vydania: 01.03.2015

Stránok: 23

Krajina: Nemecká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM).

Populárna vydavatelia

celý katalóg