Aktivní norma | Vydána: 01.03.2015

DIN SPEC 52407:2015-03

Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM).

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 67.50 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: DIN SPEC 52407:2015-03

Datum vydání: 01.03.2015

Stran: 23

Země: Německá technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM).

Populární vydavatelé

celý katalog