Aktiv Normen | Herausgegeben: 10.03.2000

IEC/TS 61945-ed.1.0

Interated circuits - Manufacturing line approval - Methodology for technology and failure analysis
(Circuits integres - Agrement d´une ligne de fabrication - Methodologie d´analyse technologique et de defaillance)

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC/TS 61945-ed.1.0

Ausgabedatum: 10.03.2000

Seiten: 23

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

Gives the methodology for technology and failure analysis in manufacturing integrated circuits. Technology analysis is used to determine the way a component is built by observing it using adequate resolution, which increases progressively with the level of analysis. Decrit la methodologie danalyse technologique et de defaillance au cours de la fabrication des circuits integres. Lanalyse technologique a pour but de determiner la constitution dun composant par des observations utilisant des moyens dont le pouvoir de resolution est progressif avec le degre danalyse. considere.

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