IEC/TS 61945-ed.1.0 img
Aktivní norma | Vydána: 10.03.2000

IEC/TS 61945-ed.1.0

Interated circuits - Manufacturing line approval - Methodology for technology and failure analysis
(Circuits integres - Agrement d´une ligne de fabrication - Methodologie d´analyse technologique et de defaillance)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 51.90 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: IEC/TS 61945-ed.1.0

Datum vydání: 10.03.2000

Stran: 23

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Gives the methodology for technology and failure analysis in manufacturing integrated circuits. Technology analysis is used to determine the way a component is built by observing it using adequate resolution, which increases progressively with the level of analysis. Decrit la methodologie danalyse technologique et de defaillance au cours de la fabrication des circuits integres. Lanalyse technologique a pour but de determiner la constitution dun composant par des observations utilisant des moyens dont le pouvoir de resolution est progressif avec le degre danalyse. considere.
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.