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Aktiv Normen | Herausgegeben: 28.07.2010
IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1 Change
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)
Verfügbare Sprachen: Spanisch, Englisch und Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 13.00 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1
Ausgabedatum: 28.07.2010
Seiten: 4
Anmerkung: Change
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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