Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.01.1983

IEC 60759-ed.1.0

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
(Methodes d´essais normalises des spectrometres d´energie X a semicteur)

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 60759-ed.1.0

Ausgabedatum: 01.01.1983

Seiten: 97

Land: Internationale technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les methodes dessais normalises des spectrometres denergie X a semicteur constitues dun semicteur et de lelectronique de traitement du signal lies par une interface a un analyseur damplitude couple a un calculateur.

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