Aktivní norma | Vydána: 01.01.1983

IEC 60759-ed.1.0

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
(Methodes d´essais normalises des spectrometres d´energie X a semicteur)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 9 310.90 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: IEC 60759-ed.1.0

Datum vydání: 01.01.1983

Stran: 97

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les methodes dessais normalises des spectrometres denergie X a semicteur constitues dun semicteur et de lelectronique de traitement du signal lies par une interface a un analyseur damplitude couple a un calculateur.

Populární vydavatelé

celý katalog