Aktiv Normen | Herausgegeben: 03.07.1996

IEC 61580-9-ed.1.0

Methods of measurement for waveguides - Part 9: Reflection coefficient at rectangular waveguide interfaces
(Methodes de mesure applicables aux guides d´ondes - Partie 9: Coefficient de reflexion aux interfaces des guides d´ondes)

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 61580-9-ed.1.0

Ausgabedatum: 03.07.1996

Seiten: 15

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

Gives the means for determining the reflection coefficient at the junction of two similar rectanglular waveguides due to: differences in the wavguide internal dimensions, lateral displacement between the waveguide axes in either the H or E plane and angular misalignment between the waveguide axes. Indique les moyens de determiner le coefficient de reflexion a la jonction de deux guides dondes rectangulaires similaires du aux: differences dans les dimensions internes du guide, deplacement lateral entre les axes du guide dans le plan H ou le plan E et excentrage angulaire entre les axes du guide.

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