IEC 61580-9-ed.1.0 img
Aktívna norma | Vydaná: 03.07.1996

IEC 61580-9-ed.1.0

Methods of measurement for waveguides - Part 9: Reflection coefficient at rectangular waveguide interfaces
(Methodes de mesure applicables aux guides d´ondes - Partie 9: Coefficient de reflexion aux interfaces des guides d´ondes)

Dostupné jazyky: Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 26.00 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: IEC 61580-9-ed.1.0

Dátum vydania: 03.07.1996

Stránok: 15

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Gives the means for determining the reflection coefficient at the junction of two similar rectanglular waveguides due to: differences in the wavguide internal dimensions, lateral displacement between the waveguide axes in either the H or E plane and angular misalignment between the waveguide axes. Indique les moyens de determiner le coefficient de reflexion a la jonction de deux guides dondes rectangulaires similaires du aux: differences dans les dimensions internes du guide, deplacement lateral entre les axes du guide dans le plan H ou le plan E et excentrage angulaire entre les axes du guide.
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.