Aktivní norma | Vydána: 03.07.1996

IEC 61580-9-ed.1.0

Methods of measurement for waveguides - Part 9: Reflection coefficient at rectangular waveguide interfaces
(Methodes de mesure applicables aux guides d´ondes - Partie 9: Coefficient de reflexion aux interfaces des guides d´ondes)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 26.00 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: IEC 61580-9-ed.1.0

Datum vydání: 03.07.1996

Stran: 15

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Gives the means for determining the reflection coefficient at the junction of two similar rectanglular waveguides due to: differences in the wavguide internal dimensions, lateral displacement between the waveguide axes in either the H or E plane and angular misalignment between the waveguide axes. Indique les moyens de determiner le coefficient de reflexion a la jonction de deux guides dondes rectangulaires similaires du aux: differences dans les dimensions internes du guide, deplacement lateral entre les axes du guide dans le plan H ou le plan E et excentrage angulaire entre les axes du guide.

Populární vydavatelé

celý katalog