Aktiv Normen | Herausgegeben: 05.04.2019

IEC 62047-34-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

ab 2 518.60 CZK im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 62047-34-ed.1.0

Ausgabedatum: 05.04.2019

Seiten: 16

Land: Internationale technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

IEC 62047-34:2019 (E) describes test conditions and test methods of electric character, static performances and thermal performances for MEMS pressure-sensitive devices. This document applies to test for both open and closed loop piezoresistive MEMS pressure devices on wafer.

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog