Aktívna norma | Vydaná: 05.04.2019

IEC 62047-34-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 2 518.60 CZK zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: IEC 62047-34-ed.1.0

Dátum vydania: 05.04.2019

Stránok: 16

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

IEC 62047-34:2019 (E) describes test conditions and test methods of electric character, static performances and thermal performances for MEMS pressure-sensitive devices. This document applies to test for both open and closed loop piezoresistive MEMS pressure devices on wafer.

Populárna vydavatelia

celý katalóg