Aktiv Normen | Herausgegeben: 26.04.2010

IEC 62416-ed.1.0

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de porteur chaud sur les transistors MOS)

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 62416-ed.1.0

Ausgabedatum: 26.04.2010

Seiten: 20

Land: Internationale technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime. La CEI 62416:2010 decrit lessai de porteur chaud au niveau de la plaquette sur les transistors NMOS et PMOS. Cet essai est destine a determiner si les transistors individuels sont conformes a la duree de vie exigee du porteur chaud dans un processus (C)MOS donne.

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