Aktivní norma | Vydána: 26.04.2010

IEC 62416-ed.1.0

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de porteur chaud sur les transistors MOS)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 1 257.10 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: IEC 62416-ed.1.0

Datum vydání: 26.04.2010

Stran: 20

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime. La CEI 62416:2010 decrit lessai de porteur chaud au niveau de la plaquette sur les transistors NMOS et PMOS. Cet essai est destine a determiner si les transistors individuels sont conformes a la duree de vie exigee du porteur chaud dans un processus (C)MOS donne.

Populární vydavatelé

celý katalog