Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gesicherte PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: IEEE/IEC 63003-2015
Ausgabedatum: 30.12.2015
Seiten: 175
Land: Internationale technische Norm