Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)
Available languages: English
Available design: electronic (protected pdf) - Immediate download, Print design
Designation: IEEE/IEC 63003-2015
Publication date: 30/12/2015
Pages: 175
Country: International technical standard