Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: IEEE/IEC 63003-2015
Datum vydání: 30.12.2015
Stran: 175
Země: Mezinárodní technická norma