Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gesicherte PDF - sofortiges Download
Bezeichnung: IEEE 1505.1-2008
Ausgabedatum: 01.08.2013
Seiten: 0
Anmerkung: Ungültige
Land: Internationale technische Norm