Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
Označenie: IEEE 1505.1-2008
Dátum vydania: 01.08.2013
Stránok: 0
Poznámka: Neplatné
Krajina: Medzinárodná technická norma