Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gesicherte PDF - sofortiges Download
Bezeichnung: IEEE 660-1986
Ausgabedatum: 18.02.1986
Seiten: 0
Anmerkung: Ungültige
Land: Internationale technische Norm