Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
Označenie: IEEE 660-1986
Dátum vydania: 18.02.1986
Stránok: 0
Poznámka: Neplatné
Krajina: Medzinárodná technická norma