Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
Označení: IEEE 660-1986
Datum vydání: 18.02.1986
Stran: 0
Poznámka: Neplatná
Země: Mezinárodní technická norma