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Aktiv Normen | Herausgegeben: 25.07.2014
ISO 14706:2014-ed.2.0
Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
(Analyse chimique des surfaces — Détermination de la contamination en éléments a la surface des tranches de silicium par spectroscopie de fluorescence X a réflexion totale)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 175.70 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ISO 14706:2014-ed.2.0
Ausgabedatum: 25.07.2014
Seiten: 25
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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