Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 25.07.2014
ISO 14706:2014-ed.2.0
Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
(Analyse chimique des surfaces — Détermination de la contamination en éléments a la surface des tranches de silicium par spectroscopie de fluorescence X a réflexion totale)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 4 260.60 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ISO 14706:2014-ed.2.0
Datum vydání: 25.07.2014
Stran: 25
Země: Mezinárodní technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
