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Aktiv Normen | Herausgegeben: 26.05.2025
ISO 17297:2025
Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
(Analyse par microfaisceaux — Application de faisceaux d´ions focalisés pour la préparation d´éprouvettes de MET — Vocabulaire)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 129.00 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ISO 17297:2025
Ausgabedatum: 26.05.2025
Seiten: 14
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Description / Abstract: This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).Populäre Herausgeber
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