Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 26.05.2025
ISO 17297:2025
Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
(Analyse par microfaisceaux — Application de faisceaux d´ions focalisés pour la préparation d´éprouvettes de MET — Vocabulaire)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 3 115.90 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ISO 17297:2025
Datum vydání: 26.05.2025
Stran: 14
Země: Mezinárodní technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Description / Abstract: This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
