Aktiv Normen | Herausgegeben: 13.07.2022

ISO 23729:2022

Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
(Analyse chimique des surfaces — Microscopie a force atomique — Lignes directrices relatives au mode opératoire de restauration des images de microscopie a force atomique dilatées par la taille finie de la sonde)

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Detailinformationen

Bezeichnung: ISO 23729:2022

Ausgabedatum: 13.07.2022

Seiten: 15

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

Description / Abstract: This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration of AFM topography images dilated by finite probe size. The three-dimensional shape of the probe apex is extracted by image reconstruction using suitable reference materials. This document is applicable to the reconstruction of AFM topography images of solid material surfaces.

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