Aktivní norma | Vydána: 13.07.2022

ISO 23729:2022

Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
(Analyse chimique des surfaces — Microscopie a force atomique — Lignes directrices relatives au mode opératoire de restauration des images de microscopie a force atomique dilatées par la taille finie de la sonde)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 3 092.90 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ISO 23729:2022

Datum vydání: 13.07.2022

Stran: 15

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Description / Abstract: This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration of AFM topography images dilated by finite probe size. The three-dimensional shape of the probe apex is extracted by image reconstruction using suitable reference materials. This document is applicable to the reconstruction of AFM topography images of solid material surfaces.

Populární vydavatelé

celý katalog