JIS K0160:2026 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 20.01.2026

JIS K0160:2026

Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Verfügbare Sprachen: Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 8 475.20 USD im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: JIS K0160:2026

Ausgabedatum: 20.01.2026

Seiten: 24

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.