JIS K0160:2026 img
Aktívna norma | Vydaná: 20.01.2026

JIS K0160:2026

Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Dostupné jazyky: Japonsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 7 200.00 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: JIS K0160:2026

Dátum vydania: 20.01.2026

Stránok: 24

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.