Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 60749-20
Dátum vydania: 01.01.2004
Stránok: 27
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma