Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Ausgabedatum: 21.12.2011
Seiten: 14
Anmerkung: Change
Land: Spanische technische Norm