Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Dátum vydania: 21.12.2011
Stránok: 14
Poznámka: Change
Krajina: Španielska technická norma