Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Available languages: English, Spanish
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Publication date: 21/12/2011
Pages: 14
Note: Change
Country: Spanish technical standard