DIN - German national standards

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DIN EN 62369-1:2010-03 (1.3.2010)

DIN EN 62369-1:2010-03 (01/03/2010)

VDE 0848-369-1. Evaluation of human exposure to electromagnetic fields from short range devices (SRDs) in various applications over the frequency range 0 GHz to 300 GHz - Part 1: Fields produced by devices used for electronic article surveillance, radio frequency identification and similar systems.
(VDE 0848-369-1. Ermittlung der Exposition von Personen gegenüber elektromagnetischen Feldern im Frequenzbereich 0 GHz bis 300 GHz durch Geräte mit kurzer Reichweite für verschiedene Anwendungen - Teil 1: Felder, die durch Geräte erzeugt werden, die zur elektronischen Artikelüberwachung, Hochfrequenz-Identifizierung und für ähnliche Anwendungen verwendet werden.)

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DIN IEC/TS 62370:2017-09 (1.9.2017)

DIN IEC/TS 62370:2017-09 (01/09/2017)

Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures.
(Elektroakustik - Schallintensitätsmessgeräte - Anforderungen und Prüfung der elektromagnetischen und elektrostatischen Verträglichkeit.)

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DIN EN IEC 62372:2023-03 (1.3.2023)

DIN EN IEC 62372:2023-03 (01/03/2023)

Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution.
(Strahlungsmessgeräte - Ummantelte Szintillatoren - Prüfverfahren für Lichtabgabe und intrinsische Auflösung.)

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from 98.30 EUR more info
DIN EN 62373:2007-01 (1.1.2007)

DIN EN 62373:2007-01 (01/01/2007)

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
(Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).)

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DIN EN 62374-1:2011-06 (1.6.2011)

DIN EN 62374-1:2011-06 (01/06/2011)

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.
(Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen.)

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DIN EN 62374:2008-02 (1.2.2008)

DIN EN 62374:2008-02 (01/02/2008)

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
(Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.)

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DIN EN 62375:2005-02 (1.2.2005)

DIN EN 62375:2005-02 (01/02/2005)

Video systems (625/50 progressive) - Video and accompanied data using the vertical blanking interval - Analogue interface.
(Videosysteme (625/50 ohne Zeilensprung) - Video- und Zusatzdaten in der vertikalen Austastlücke - Analoge Schnittstelle.)

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DIN EN 62376:2011-08 (1.8.2011)

DIN EN 62376:2011-08 (01/08/2011)

Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Electronic chart system (ECS) - Operational and performance requirements, methods of testing and required test results.
(Navigations- und Funkkommunikationsgeräte und -systeme für die Seeschifffahrt - Elektronisches Kartensystem (ECS) - Betriebs- und Leistungsanforderungen, Prüfverfahren und geforderte Prüfergebnisse.)

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DIN EN 62379-1:2008-03 (1.3.2008)

DIN EN 62379-1:2008-03 (01/03/2008)

Common control interface for networked digital audio and video products - Part 1: General.
(Gemeinsame Steuerschnittstelle für netzwerkbetriebene digitale Audio- und Videogeräte - Teil 1: Allgemeines.)

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from 185.10 EUR more info
DIN EN 62379-2:2010-04 (1.4.2010)

DIN EN 62379-2:2010-04 (01/04/2010)

Common control interface for networked digital audio and video products - Part 2: Audio.
(Gemeinsame Steuerschnittstelle für netzwerkbetriebene digitale Audio- und Videogeräte - Teil 2: Audio.)

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