Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 20/11/2019
JIS K0149-1:2019
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
Available languages: Japanese
Available design: electronic design (pdf), Print design
from 3 060.50 USD
show on eshop
Detail information
Designation: JIS K0149-1:2019
Publication date: 20/11/2019
Pages: 18
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizPopular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
